ИССЛЕДОВАНИЕ ВЛИЯНИЯ НА ЭКСПЛУАТАЦИОННЫЕ ХАРАКТЕРИСТИКИ КАЧЕСТВА МАТЕРИАЛОВ ТАНТАЛОВЫХ ОКСИДНО-ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ ЧИП-КОНДЕНСАТОРОВ

Авторы

  • В. А. Кузнецова ОАО «Элеконд» (Сарапул)
  • П. Л. Кузнецов ОАО «Элеконд» (Сарапул)
  • Е. А. Беляева ОАО «Элеконд» (Сарапул)
  • В. В. Муравьев Ижевский государственный технический университет имени М. Т. Калашникова

Ключевые слова:

танталовые оксидно-полупроводниковые чип-конденсаторы, эксплуатационные характеристики, брак

Аннотация

Проведены экспериментальные исследования влияния качества исходных материалов, применяемых для изготовления танталовых чип-конденсаторов, на выход годных изделий.

Биографии авторов

В. А. Кузнецова, ОАО «Элеконд» (Сарапул)

инженер-технолог ОТНК

П. Л. Кузнецов, ОАО «Элеконд» (Сарапул)

аместитель начальника отдела главного метролога

Е. А. Беляева, ОАО «Элеконд» (Сарапул)

инженер-технолог ОТНК

В. В. Муравьев, Ижевский государственный технический университет имени М. Т. Калашникова

доктор технических наук, профессор, заведующий кафедрой «Приборы и методы контроля качества»

Библиографические ссылки

Зуев Л. Б., Муравьев В. В., Данилова Ю. С. О признаке усталостного разрушения сталей // Письма в Журнал технической физики. – 1999. – Т. 25, № 9. – С. 31–34.

Муравьев В. В., Степанова Л. Н., Кареев А. Е. Оценка степени опасности усталостных трещин при акустико-эмиссионном контроле литых деталей тележки грузового вагона // Дефектоскопия. – 2003. – № 1. – С. 63–68.

Оценка остаточных напряжений в ободьях вагонных колес электромагнитно-акустическим методом / В. В. Муравьев [и др.] // Дефектоскопия. – 2011. – № 8. – С. 16–28.

Кузнецов П. Л. Проблемы контроля качества оксидно-полупроводниковых конденсаторов при использовании «Inrush-test» // Приборостроение в XXI веке – 2011. Интеграция науки, образования и производства : сб. материалов VII Всерос. науч.-техн. конф. с междунар. участием, посвящ. 50-летию приборостроит. фак. (Ижевск, 15–17 нояб. 2011 г.). – Ижевск : Изд-во ИжГТУ, 2012. – С. 425–431.

Кузнецов П. Л., Кузнецова В. А. Комплексный подход к обеспечению качества при производстве электролитических конденсаторов и ионисторов // Молодые ученые – ускорению научно-технического прогресса в XXI веке [Электронный ресурс]: электронное науч. изд. : сб. тр. II Всерос. науч.-техн. конф. аспирантов, магистрантов и молодых ученых с междунар. участием, Ижевск, 23–25 апр. 2013 г. / М-во образования и науки Удмурт. Респ., ФГБОУ ВПО «Ижев. гос. техн. ун-т им. М. Т. Калашникова». – Электрон. дан. (1 файл : 39,3 Мб.). – Ижевск, 2013. – 1415 c. – 1 электрон. опт. диск (CD-ROM). – Систем. требования: Acrobat reader 6.0 и выше. – ISBN 978-5-7526-0603-8.

Факторы, определяющие емкость танталового оксидного конденсатора на стадии изготовления анода / В. А. Кузнецова, П. Л. Кузнецов, А. А. Масалев и др. // Влияние высокоэнергетических воздействий на структуру и свойства конструкционных материалов : тр. II Междунар. конф., 23–30 сент. 2013 г. : в 2 т. / под ред. В. Е. Громова. – Новокузнецк : Изд-во СибГИУ, 2013. – Т. 1. – С. 233–239. – (Серия «Фундаментальные проблемы современного материаловедения»).

Кузнецова В. А., Кузнецов П. Л., Муравьев В. В. Исследование надежности танталовых оксидно-полупроводниковых чип-конденсаторов на основе экспериментальных данных // Вестн. Ижев. гос. техн. ун-та. – 2013. – № 3. – С. 88–91.

Муравьев В. В., Муравьев М. В., Бехер С. А. Применение новой методики обработки сигналов АЭ для повышения точности локализации дефектов // Дефектоскопия. – 2002. – № 8. – С. 53–65.

Способ диагностирования мостовых металлических конструкций и устройство для его осуществления / Степанова Л. Н., Муравьев В. В., Круглов В. М. и др. – Патент РФ № 2240551 С2 RU. Дата регистрации: 20.06.2001. Опубл. Бюл. № 32, 27.06.2003. Москва, ФИПС. – 20 с.

Методика определения акустических структурных шумов металла / В. В. Муравьев, О. В. Муравьева, А. В. Байтеряков и др. // Интеллектуал. системы в пр-ве. – 2013. – № 1. – С. 143–148.

Загрузки

Опубликован

15.06.2013

Как цитировать

Кузнецова, В. А., Кузнецов, П. Л., Беляева, Е. А., & Муравьев, В. В. (2013). ИССЛЕДОВАНИЕ ВЛИЯНИЯ НА ЭКСПЛУАТАЦИОННЫЕ ХАРАКТЕРИСТИКИ КАЧЕСТВА МАТЕРИАЛОВ ТАНТАЛОВЫХ ОКСИДНО-ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ ЧИП-КОНДЕНСАТОРОВ. Интеллектуальные системы в производстве, (2), 140–143. извлечено от https://izdat.istu.ru/index.php/ISM/article/view/1635

Выпуск

Раздел

Статьи