Прогнозирование сохраняемости танталовых оксидно-полупроводниковых чип-конденсаторов по временной зависимости

Авторы

  • В. А. Кузнецова
  • В. В. Муравьев

DOI:

https://doi.org/10.22213/2413-1172-2016-4-69-72

Ключевые слова:

танталовые оксидно-полупроводниковые чип-конденсаторы, сохраняемость, прогнозирование

Аннотация

С помощью ускоренного метода оценки сохраняемости проведены исследования танталовых оксидно-полупроводниковых чип-конденсаторов с использованием прогнозирования по временной зависимости.

Библиографические ссылки

Кузнецова В. А., Кузнецов П. Л., Муравьев В. В. Исследование надежности танталовых оксидно-полупроводниковых чип-конденсаторов на основе экспериментальных данных // Вестник ИжГТУ имени М. Т. Калашникова. - 2013. - № 3(59). - С. 88-91.

Кузнецов П. Л., Кузнецова В. А., Ломаев Г. В. Исследование влияния характеристик технологического процесса изготовления на изменения эксплуатационных характеристик танталовых объемно-пористых конденсаторов во времени // Вестник ИжГТУ имени М. Т. Калашникова. - 2014. - № 1(61). - с. 11-15.

Исследование влияния на эксплуатационные характеристики качества материалов танталовых оксидно-полупроводниковых чип-конденсаторов / В. А. Кузнецова, П. Л. Кузнецов, Е. А. Беляева, В. В. Муравьев // Интеллектуальные системы в производстве. - 2013. - № 2. - С. 140-143.

Беляева Е. А., Кузнецова В. А., Муравьев В. В. Исследование влияния срока сохраняемости на эксплуатационные характеристики и состояние объемно-пористых танталовых конденсаторов // Интеллектуальные системы в производстве. - 2014. - № 1. - С. 96-99.

Сибгатуллин Б. И., Барсуков В. К. Расчет и моделирование переходных процессов при испытаниях танталовых конденсаторов импульсным током // Интеллектуальные системы в производстве. - 2015. - № 1. - С. 115-120.

Сибгатуллин Б. И., Барсуков В. К. Механизмы отказов танталовых конденсаторов в установившихся и переходных режимах работы // Электротехнические комплексы и системы. - 2015. - С. 185-189.

Электроимпульсная консолидация танталовых анодов для электролитических конденсаторов / М. С. Юрлова, Е. Г. Григорьев, Е. А. Олевский, В. Д. Деменюк // Физика и химия обработки материалов. - 2014. - № 5. - С. 82-90.

Кузнецова В. А., Кузнецов П. Л., Муравьев В. В. Указ. соч.

Сибгатуллин Б. И., Барсуков В. К. Расчет и моделирование переходных процессов при испытаниях танталовых конденсаторов импульсным током.

Сибгатуллин Б. И., Барсуков В. К. Механизмы отказов танталовых конденсаторов в установившихся и переходных режимах работы.

Исследование влияния на эксплуатационные характеристики качества материалов танталовых оксидно-полупроводниковых чип-конденсаторов.

Беляева Е. А., Кузнецова В. А., Муравьев В. В. Указ. соч.

Кузнецова В. А., Кузнецов П. Л., Муравьев В. В. Указ. соч.

Загрузки

Опубликован

24.05.2017

Как цитировать

Кузнецова, В. А., & Муравьев, В. В. (2017). Прогнозирование сохраняемости танталовых оксидно-полупроводниковых чип-конденсаторов по временной зависимости. Вестник ИжГТУ имени М.Т. Калашникова, 19(4), 69–72. https://doi.org/10.22213/2413-1172-2016-4-69-72

Выпуск

Раздел

Радиотехника и связь