Применение зондовой микроскопии для контроля размеров и анализа дисперсности наночастиц

Авторы

  • П. В. Гуляев Институт прикладной механики УрО РАН, Ижевск
  • М. Р. Гафаров Институт прикладной механики УрО РАН, Ижевск
  • Ю. К. Шелковников Институт прикладной механики УрО РАН, Ижевск
  • А. В. Тюриков Институт прикладной механики УрО РАН, Ижевск
  • С. Р. Кизнерцев Институт прикладной механики УрО РАН, Ижевск

Ключевые слова:

зондовая микроскопия, наночастицы, контроль дисперсности, сегментация изображений

Аннотация

Описано применение сканирующей зондовой микроскопии для исследования водного концентрата наноалмазов. Приводятся описания методов и средств подготовки образцов, а также соответствующие результаты исследований. Рассмотрены вопросы автоматической сегментации по кривизне профилограммы изображения с целью анализа дисперсности наночастиц.

Биографии авторов

П. В. Гуляев, Институт прикладной механики УрО РАН, Ижевск

кандидат технических наук, ст. научный сотрудник; Институт прикладной механики УрО РАН, Ижевск

М. Р. Гафаров, Институт прикладной механики УрО РАН, Ижевск

аспирант; Институт прикладной механики УрО РАН, Ижевск

Ю. К. Шелковников, Институт прикладной механики УрО РАН, Ижевск

доктор технических наук, профессор, гл. научный сотрудник; Институт прикладной механики УрО РАН, Ижевск

А. В. Тюриков, Институт прикладной механики УрО РАН, Ижевск

кандидат физико-математических наук, ст. научный сотрудник; Институт прикладной механики УрО РАН, Ижевск

С. Р. Кизнерцев, Институт прикладной механики УрО РАН, Ижевск

кандидат технических наук, ст. научный сотрудник; Институт прикладной механики УрО РАН, Ижевск

Библиографические ссылки

Васильев Л. С., Ломаева С. Ф. К анализу механизмов, ограничивающих дисперсность порошков, полученных методом механического измельчения // Физика металлов и металловедение. - 2002. - Т. 93. - № 2. - С. 1-9.

АСМ-исследования нанокристаллических порошков на основе железа / С. Ф. Ломаева [и др.] // Материалы Всерос. совещания «Зондовая микроскопия - 2000». - Нижний Новгород : ИФН РАН, 2000. - С. 75-79.

Каркищенко А. Н., Лепский А. Е., Безуглов А. В. Об одном способе векторного и аналитического представления контура изображения // Материалы Всерос. науч.-техн. конф. «Интел.САПР-97». - Таганрог : ТРТУ, 1998. - Т. 8. - № 2. - C. 107-111.

Загрузки

Опубликован

15.12.2011

Как цитировать

Гуляев, П. В., Гафаров, М. Р., Шелковников, Ю. К., Тюриков, А. В., & Кизнерцев, С. Р. (2011). Применение зондовой микроскопии для контроля размеров и анализа дисперсности наночастиц. Вестник ИжГТУ имени М.Т. Калашникова, (4), 119–122. извлечено от https://izdat.istu.ru/index.php/vestnik/article/view/2625

Выпуск

Раздел

Статьи