АНАЛИЗ СХЕМ ИСТОЧНИКОВ ПИТАНИЯ ДЛЯ ИСПЫТАНИЯ ТАНТАЛОВЫХ ЧИП-КОНДЕНСАТОРОВ
Ключевые слова:
танталовый чип-конденсатор, источник питания, испытание на безотказностьАннотация
Приводятся различные варианты построения схем источников питания для испытания танталовых чип-конденсаторов на безотказность. Результатом исследования является изготовление макетных стендов, защищенных патентами на полезную модель.Библиографические ссылки
Конденсаторы оксидные танталовые К53-72. Технические условия АЖЯР.673546.008 ТУ.
Розанов Ю. К. Основы силовой электроники. - М. : Энергоатомиздат, 1992. - 296 с.
Патент на полезную модель № 125716 (Россия), МПК G01R31/01 / Устройство испытания конденсаторов / Барсуков В. К., Морозов В. А., Пустовалов М. А. Заявл. 02.02.2012. - № 2012103601/28 (Россия); Опубл. - 10.03.2013.
Патент на полезную модель № 126143 (Россия) МПК G01R31/01 / Устройство испытания конденсаторов / Барсуков В. К., Морозов В. А., Морозов А. В. Заявл. 02.02.2012. - 2012103571/28 (Россия); Опубл. - 20.03.2013.
Патент на полезную модель № 117015 (Россия), МПК G01R31/01 / Устройство испытания конденсаторов / Барсуков В. К., Морозов В. А., Новоселов М. Л. Опубл. - 10.06.2012.
Патент на полезную модель № 125714 МПК G01R31/01 / Устройство испытания конденсаторов / Барсуков В. К., Штин А. А., Морозов В. А., Морозов А. В. Заявл. 17.07.2012. - 2012130479/28 (Россия); Опубл. 10.03.2013.
Патент на полезную модель № 125715 МПК G01R31/01 / Устройство испытания конденсаторов / Барсуков В. К., Морозов В. А., Морозов А. В., Новоселов М. Л., Соломин А. В., Шемякин М. Л. Заявл. 17.07.2012. - 2012130480/28 (Россия); Опубл. - 10.03.2013.