Analysis of circuit design of power supplies for tests of tantalum chip capacitors
Keywords:
tantalum chip capacitors, power supply, reliability, operation life expectancy testAbstract
The paper presents various circuit designs of power supplies for operation life expectancy tests of tantalum chip capacitors. Tests are carried out in accordance with specifications. The result of the research work is the development of test stands for tantalum chip capacitors. Power supply circuits are protected by patents.References
Конденсаторы оксидные танталовые К53-72. Технические условия АЖЯР.673546.008 ТУ.
Розанов Ю. К. Основы силовой электроники. - М. : Энергоатомиздат, 1992. - 296 с.
Патент на полезную модель № 125716 (Россия), МПК G01R31/01 / Устройство испытания конденсаторов / Барсуков В. К., Морозов В. А., Пустовалов М. А. Заявл. 02.02.2012. - № 2012103601/28 (Россия); Опубл. - 10.03.2013.
Патент на полезную модель № 126143 (Россия) МПК G01R31/01 / Устройство испытания конденсаторов / Барсуков В. К., Морозов В. А., Морозов А. В. Заявл. 02.02.2012. - 2012103571/28 (Россия); Опубл. - 20.03.2013.
Патент на полезную модель № 117015 (Россия), МПК G01R31/01 / Устройство испытания конденсаторов / Барсуков В. К., Морозов В. А., Новоселов М. Л. Опубл. - 10.06.2012.
Патент на полезную модель № 125714 МПК G01R31/01 / Устройство испытания конденсаторов / Барсуков В. К., Штин А. А., Морозов В. А., Морозов А. В. Заявл. 17.07.2012. - 2012130479/28 (Россия); Опубл. 10.03.2013.
Патент на полезную модель № 125715 МПК G01R31/01 / Устройство испытания конденсаторов / Барсуков В. К., Морозов В. А., Морозов А. В., Новоселов М. Л., Соломин А. В., Шемякин М. Л. Заявл. 17.07.2012. - 2012130480/28 (Россия); Опубл. - 10.03.2013.
