ТЕСТИРОВАНИЕ ЦИФРОВЫХ МИКРОСХЕМ И ПРОГРАММИРОВАНИЕ СТЕНДОВОГО ОБОРУДОВАНИЯ «FORMULA 2K» ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ПАРАМЕТРОВ - Копысов, А Н; Хатбуллин, Р А; Хворенков, В В; Ермаков, Ф М; Зырянов, К А (Интеллектуальные системы в производстве, 2017)
В данной статье рассматривается один из способов тестирования цифровых микросхем, а именно, тестирование с помощью стендового оборудования Formula 2k. Тестирование позволяет повысить качество выпускаемой продукции благодаря отбраковке некачественных элементов, в чем заинтересован конечный потребитель. Тестирование микросхем предполагает решение таких задач, как подготовка конструкторской документации, разработка программного обеспечения для тестирования оборудования и его отладки. Исходным материалом для этого является техническая документация на проверяемую микросхему. Из документации выбираются важнейшие параметры, позволяющие судить о качестве микросхемы при ее тестировании. На основе этих выбранных параметров создается печатная плата для их измерения. В ходе подготовки к тестированию используется программное обеспечение для создания переходной платы. Для нее конструкторская документация разрабатывается на базе пакета программ AltiumDesigner. Для подключения микросхемы к переходной плате используется специальное контактирующее устройство. Оно также создается в среде AltiumDesignerисходя из схем его устройства. Это контактирующее устройство связывает выводы микросхемы с контактными площадками на переходной плате. На основе технических условий и Datasheet для тестируемой микросхемы определяются допуски на значения параметров, которые необходимы для измерения. Исходя из этих данных производится разработка программного обеспечения на специализированном языке тестера Sinopи, выполняется настройка тестера для проведения измерений. После выполнения отладки и всех измерений формируются выходные данные измеряемых параметров. Если все измеряемые параметры соответствуют заявленным, микросхема проходит контроль, в ином случае она отбраковывается.