Исследование танталовых объемно-пористых конденсаторов с использованием ускоренной методики оценки качества СТРЕСС-ТЕСТ - Кузнецов, Павел Леонидович; Кузнецова, Валентина Александровна; Муравьев, Виталий Васильевич (Интеллектуальные системы в производстве, 2021)
В статье рассматривается вопрос о возможности проведения ускоренных испытаний по оценке качества танталовых объемно-пористых конденсаторов согласно разработанной методике СТРЕСС-ТЕСТ взамен устаревших методов, требующих затратных ресурсов для проведения испытаний, и не обеспечивают должную отбраковку конденсаторов (выявление дефектов оксидного слоя). Известно, что выращенный аморфный пентаоксид способен образовать равномерный слой на поверхности тантала, но вследствие различных факторов (из-за неровности поверхности, пористости, неравномерности распределения электролита во время процесса оксидирования и электрического контакта рейконоситель-анод) создается поверхность с «проблемными участками», «непроформовкой», или «слабым местом», отбраковка которых наиболее важна для современных танталовых конденсаторов. Проведение сравнительного анализа применения стандартного метода и методики СТРЕСС-ТЕСТ для ускоренной оценки качества танталовых объемно-пористых конденсаторов позволит доказать эффективность разработанной методики. Разработанная методика СТРЕСС-ТЕСТ основана на цикличном (10 циклов) приложении к конденсатору повышенного напряжения (соответствующего напряжению при формировании оксидного слоя на танталовом аноде) при продолжительности каждого цикла в течение 5 минут, что доказывается проведением расчета данного процесса на основе модели ускорения безотказности Журкова. Методика позволяет заблаговременно выявлять некачественные конденсаторы при дефектах в структуре оксидного слоя. Методика позволяет проводить оценку качества конденсаторов в ускоренные сроки, что подтверждается полученной регрессионной моделью эквивалентного последовательного сопротивления в сравнении с регрессионной моделью стандартного вида испытаний на длительную безотказность в течение 24 000 часов. Применение методики СТРЕСС-ТЕСТ для танталовых объемно пористых конденсаторов позволит сократить время проведения испытаний ориентировочно на два с половиной года.