[1]
Гуляев, П.В., Шелковников, Ю.К., Кириллов, А.И. и Ермолин, К.С. 2018. Особенности применения приводов сближения при использовании туннельного микроскопа для технологического контроля поверхности. Интеллектуальные системы в производстве. 16, 2 (июл. 2018), 48–55. DOI:https://doi.org/10.22213/2410-9304-2018-2-48-55.