Гуляев, П. В.; Шелковников, Ю. К.; Кириллов, А. И.; Ермолин, К. С. Особенности применения приводов сближения при использовании туннельного микроскопа для технологического контроля поверхности. Интеллект. сист. произв. 2018, 16, 48-55.