ГУЛЯЕВ, П. В.; ШЕЛКОВНИКОВ, Ю. К.; КИРИЛЛОВ, А. И.; ЕРМОЛИН, К. С. Особенности применения приводов сближения при использовании туннельного микроскопа для технологического контроля поверхности. Интеллектуальные системы в производстве, [S. l.], v. 16, n. 2, p. 48–55, 2018. DOI: 10.22213/2410-9304-2018-2-48-55. Disponível em: https://izdat.istu.ru/index.php/ISM/article/view/4084. Acesso em: 22 дек. 2024.