ШИШАКОВ, К. В. СИСТЕМНЫЙ АНАЛИЗ ПАРАМЕТРОВ СКАНИРУЮЩИХ ЗЕРКАЛ. Интеллектуальные системы в производстве, [S. l.], n. 1, p. 188–199, 2009. Disponível em: https://izdat.istu.ru/index.php/ISM/article/view/1601. Acesso em: 22 дек. 2024.