Шишаков, К. В. (2009) «СИСТЕМНЫЙ АНАЛИЗ ПАРАМЕТРОВ СКАНИРУЮЩИХ ЗЕРКАЛ», Интеллектуальные системы в производстве, (1), сс. 188–199. доступно на: https://izdat.istu.ru/index.php/ISM/article/view/1601 (просмотрено: 22 декабрь 2024).