[1]
В. В. Скобелева, А. В. Щенятский, и Ю. Б. Брызгалов, «Анализ погрешностей длинных отверстий и методов их контроля», Интеллект. сист. произв., т. 15, вып. 3, сс. 41–50, окт. 2017.