П. В. Гуляев, Ю. К. Шелковников, А. И. Кириллов, и К. С. Ермолин, «Особенности применения приводов сближения при использовании туннельного микроскопа для технологического контроля поверхности», Интеллект. сист. произв., т. 16, вып. 2, сс. 48–55, июл. 2018.