[1]
П. А. Ушаков, К. О. Максимов, и А. В. Тарасов, «Разработка методики и средств автоматической идентификации электрофизических параметров образцов многослойных пленочных резистивно-емкостных сред», Интеллект. сист. произв., т. 7, вып. 2, сс. 130–135, июн. 2012.