Гуляев, П. В., Ю. К. Шелковников, А. И. Кириллов, и К. С. Ермолин. «Особенности применения приводов сближения при использовании туннельного микроскопа для технологического контроля поверхности». Интеллектуальные системы в производстве, т. 16, вып. 2, июль 2018 г., сс. 48-55, doi:10.22213/2410-9304-2018-2-48-55.