Гуляев, П В, Ю К Шелковников, А И Кириллов, и К С Ермолин. «Особенности применения приводов сближения при использовании туннельного микроскопа для технологического контроля поверхности». Интеллектуальные системы в производстве 16, no. 2 (июль 2, 2018): 48–55. просмотрено июль 3, 2024. https://izdat.istu.ru/index.php/ISM/article/view/4084.