Шишаков, К. В. «СИСТЕМНЫЙ АНАЛИЗ ПАРАМЕТРОВ СКАНИРУЮЩИХ ЗЕРКАЛ». Интеллектуальные системы в производстве, no. 1 (март 15, 2009): 188–199. просмотрено май 3, 2024. https://izdat.istu.ru/index.php/ISM/article/view/1601.