Ускоренные испытания сохраняемости танталовых конденсаторов с использованием теплового метода

Валентина Александровна Кузнецова; Виталий Васильевич Муравьев

doi:10.22213/2413-1172-2018-1-82-88

Авторы

В. А. Кузнецова ИжГТУ имени М. Т. Калашникова; ОАО «Элеконд»
В. В. Муравьев ИжГТУ имени М. Т. Калашникова

DOI:

https://doi.org/10.22213/2413-1172-2018-1-82-88

Ключевые слова:

танталовые конденсаторы, ускоренные испытания, сохраняемость, качество, надежность

Аннотация

С помощью ускоренного метода оценки сохраняемости конденсаторов на основе воздействия повышенной температуры среды без приложения электрической нагрузки проведены исследования на стадии производства. При проведении ускоренных испытаний при температуре 398 К (125 ºС) на конденсатор без приложения к нему электрического напряжения происходит старение оксидного слоя на танталовом аноде конденсатора. Приведена методика расчета длительности ускоренных испытаний, которая составила 28,18 ч. Испытаны 5 различных номиналов по 45 штук в каждой из 3 выборок танталовых оксидно-полупроводниковых чип-конденсаторов и 2 выборки танталовых объемно-пористых конденсаторов для выявления некачественной продукции. В процессе испытаний, соответствующих годовым циклам до 30 лет, проводились измерения параметров-критериев годности: емкости, тангенса угла потерь, тока утечки, эквивалентного последовательного сопротивления конденсаторов. Из приведенных зависимостей установлено, что в процессе хранения некоторые параметры претерпевают изменения к окончанию срока хранения, имитирующему срок более 25 лет. Отклонение от монотонной зависимости для всех выборок связаны с критическими моментами воздействия тепла. Отмечено, что наибольшие изменения претерпевает параметр тока утечки; другие параметры находятся в пределах нормы.

Биографии авторов

В. А. Кузнецова, ИжГТУ имени М. Т. Калашникова; ОАО «Элеконд»

аспирант; инженер-технолог

В. В. Муравьев, ИжГТУ имени М. Т. Калашникова

доктор технических наук, профессор, заведующий кафедрой «Приборы и методы измерений, контроля, диагностики»

Библиографические ссылки

Кузнецова В. А., Кузнецов П. Л., Муравьев В. В. Исследование надежности танталовых оксидно-полупроводниковых чип-конденсаторов на основе экспериментальных данных // Вестник ИжГТУ. 2013. № 3(59). С. 88-91.

Кузнецов П. Л., Кузнецова В. А., Ломаев Г. В. Исследование влияния характеристик технологического процесса изготовления на изменения эксплуатационных характеристик танталовых объемно-пористых конденсаторов во времени // Вестник ИжГТУ. 2014. № 1(61). с. 11-15.

Сибгатуллин Б. И., Барсуков В. К. Расчет и моделирование переходных процессов при испытаниях танталовых конденсаторов импульсным током // Интеллектуальные системы в производстве. 2015. № 1(25). С. 115-120.

Барсуков В. К., Сибгатуллин Б. И. Стенд для испытаний танталовых конденсаторов импульсным током // Интеллектуальные системы в производстве. 2015. № 3(27). С. 63-66.

Электроимпульсная консолидация танталовых анодов для электролитических конденсаторов / М. С. Юрлова, Е. Г. Григорьев, Е. А. Олевский, В. Д. Деменюк // Физика и химия обработки материалов. 2014. № 5. С. 82-90.

Кузнецова В. А., Муравьев В. В. Прогнозирование сохраняемости танталовых оксидно-полупроводниковых чип-конденсаторов по временной зависимости // Вестник ИжГТУ имени М. Т. Калашникова. 2016. № 4(72). С. 69-72.

Кузнецов П. Л., Муравьев В. В. Контроль качества электролитических танталовых конденсаторов с использованием стресс-теста // Приборы и методы измерений. 2015. № 1(10). С. 76-80.

Кузнецова В. А., Муравьев В. В. Метод ускоренных испытаний сохраняемости танталовых оксидно-полупроводниковых чип-конденсаторов // Контроль. Диагностика. 2016. № 7. С. 57-60.