Статистический операционный контроль танталовых электролитических конденсаторов с использованием многофакторной модели
DOI:
https://doi.org/10.22213/2413-1172-2021-2-105-113Ключевые слова:
конденсатор, операционный контроль, многофакторный эксперимент, качество, отказАннотация
С использованием метода статистического дискретного наблюдения получены результаты анализа качества приварки катодного вывода танталовых конденсаторов с жидким электролитом. Базисными информативными показателями установлены баллы качества, рассчитанные по разработанной методике системного межэтапного анализа качества конденсаторов (см. работы в журнале «Вестник ИжГТУ имени М. Т. Калашникова» за 2018 г.). Проведены верификационные экспериментальные исследования для танталовых конденсаторов с твердым электролитом по разработанному методу системного контроля технологического процесса танталовых электролитических конденсаторов с построением многофакторной модели. В результате исследований установлено наличие отклонения твердоэлектролитических конденсаторов по параметрическому несоответствию тока утечки. Для проведения многофакторного эксперимента выбран процесс изготовления объемно-пористого танталового анодного электрода. Построена регрессионная математическая модель процесса изготовления танталового анода в зависимости от факторов прессования, спекания и электрохимического оксидирования. В сформированной математической модели обнаружено наиболее сильное параметрическое влияние на характеристику «ток утечки» плотности прессования и напряжения оксидирования, а также совокупного фактора плотности прессования и температуры спекания; имеется также незначительное влияние температуры и совокупности факторов температуры и напряжения оксидирования. Разработанный метод системного контроля технологического процесса танталовых электролитических конденсаторов с использованием многофакторной модели позволяет минимизировать отказы танталовых конденсаторов на входном контроле и в аппаратуре заказчика.Библиографические ссылки
Предотвращение отказов танталовых чип-конденсаторов на этапе производства / С. В. Горелов, Е. С. Игнатенко, К. Н. Морев, В. И. Никулин // Научные проблемы транспорта Сибири и Дальнего Востока. 2016. № 3-4. С. 135-138.
Чернов Д. В., Шавкунов С. П. Влияние электрохимической полировки тантала на диэлектрические параметры анодного оксида // Конденсированные среды и межфазные границы. 2018. Т. 20, № 2. С. 289-295. DOI: 10.17308/kcmf.2018.20/524.
Получение пористых танталовых анодов для электролитических конденсаторов при помощи послойного поточечного электроимпульсного спекания / И. А. Елькин, К. С. Столбов, В. С. Волков, О. Б. Барышев, А. Н. Бельтюков, О. Ю. Гончаров, С. В. Рыбин, А. В. Степанов, А. А. Чулкина // Химическая физика и мезоскопия. 2020. Т. 22, № 4. С. 421-433. DOI: 10.15350/17270529.2020.4.40.
Иванченко С. Н., Пойлов В. З. Исследование возможности снижения сопротивления покрытия коллоидного графита в конструкции твердотельных танталовых конденсаторов // Инженерный вестник Дона. 2017. № 2 (45). С. 6.
Иванченко С. Н., Пойлов В. З. Оптимизация процесса реанодизации при производстве танталовых оксидно-полупроводниковых конденсаторов // Инженерный вестник Дона. 2018. № 2 (49). С. 6.
Кузнецова В. А., Муравьев В. В. Влияние качества корпуса оксидно-полупроводниковых танталовых чип-конденсаторов на эксплуатационные параметры // Интеллектуальные системы в производстве. 2014. № 2 (24). С. 112-115.
Кузнецова В. А., Муравьев В. В. Метод ускоренных испытаний сохраняемости танталовых оксидно-полупроводниковых чип-конденсаторов // Контроль. Диагностика. 2016. № 7. С. 57-60.
Кузнецов П. Л., Муравьев В. В. Контроль качества электролитических танталовых конденсаторов с использованием стресс-теста // Приборы и методы измерений. 2015. № 1 (10). С. 76-80.
Kolosov V.N., Miroshnichenko M.N., Prokhorova T.Y., Orlov V.M. Preparation of tantalum powders by the reduction of complex oxyfluoride compounds with sodium. Russian Journal of Non-Ferrous Metals, 2016, vol. 57, no. 6, pp. 599-603. DOI: 10.26896/1028-6861-2019-85-8-70-78.
Freeman Y. Tantalum and niobium based capacitors. Science, Technology and application, Springer International Publishing AG, 2018, 120 p. DOI: 10.1007/978-3-319-67870-2, ISBN 978-3-319-67869-6, ISBN 978-3-319-678870-2 (e-book).
Горбачев И. П., Сашов А. А. Метод выявления внутренних дефектов танталовых конденсаторов для снижения количества отказов аппаратуры // Ракетно-космическое приборостроение и информационные системы. 2019. Т. 6, № 1. С. 94-101. DOI: 10.30894/ISSN2409-0239.2019.6.1.94.101.
Анализ влияния внутренних дефектов на надежность танталовых конденсаторов / А. Н. Алыков, И. Ю. Булаев, Т. Ю. Корбанкова, А. Я. Кулибаба // Ракетно-космическое приборостроение и информационные системы. 2020. Т. 7, № 2. С. 90-96. DOI: 10.30894/ISSN 2409-0239.2020.7.2.90.96.
Шавкунов С. П., Чернов Д. В. Исследование электрических свойств танталовых конденсаторов циклическими поляризационными и импедансными измерениями // Вестник Пермского университета. Серия: Химия. 2020. № 3 (10). С. 318-326. DOI: 10.17072/2223-1838-2020-3-318-327.
Идентификация и оценка рисков процесса планирования высокопроизводительного производства / Е. А. Скорнякова, В. Ш. Сулаберидзе, А. С. Борейшо, В. С. Лугиня // Вопросы радиоэлектроники. 2019. № 4. С. 108-114.
Скорнякова Е. А., Бабаев С. А. Проблемы принятия оперативных управленческих решений из-за отклонений в процессе производственного планирования высокопроизводительного предприятия // Проблемы машиностроения и автоматизации. 2018. № 4. С. 35-39.
Сушенцева А. Д., Бекмешов А. Ю. Анализ эффективности функционирования технологических процессов производства // Качество. Инновации. Образование. 2019. № 3 (161). С. 69-74. DOI: 10.31145/ 1999-513x-2019-69-74.
Безъязычный В. Ф., Ильина М. Е. Алгоритмы управления процессами производства машиностроительной продукции на основе цикла PDCA // Вестник Рыбинской государственной авиационной технологической академии им. П. А. Соловьева. 2020. № 4. С. 43-51.
Антипов Д. В., Буркова В. А. Совершенствование метода FMEA-анализа для оценки рисков // Дневник науки. 2019. № 5. С.79
Квалиграмма как инструмент описания процессов с учетом цикла PDCA и риск-ориентированного мышления / Н. В. Мерзликина, В. С. Секацкий, К. О. Полещук, Л. Д. Дедух, К. О. Осколкова // Международный научно-исследовательский журнал. 2017. № 11-4 (65). С. 55-58. DOI: 10.23670/IRJ.2017.65.171.
