Метод двухпараметровой обработки сигналов вихретоковых измерительных преобразователей толщиномеров неэлектропроводящих покрытий на немагнитных металлических основаниях
DOI:
https://doi.org/10.22213/2413-1172-2024-4-101-114Ключевые слова:
двухмерная градуировка, амплитудно-фазовый алгоритм, толщиномер покрытий, вихретоковый метод измеренийАннотация
Существующий известный амплитудный вихретоковый метод измерения толщины неэлектропроводящего покрытия на немагнитном металлическом основании не обеспечивает современные потребности в точности измерения. Сильное влияние на результат измерений оказывает изменение удельной электрической проводимости основания. Целью данного исследование является повышение достоверности измерений толщины неэлектропроводящих покрытий на немагнитных металлических основаниях за счет учета (подавления) влияния удельной электрической проводимости оснований. Для достижения указанной цели использован трехобмоточный трансформаторный скомпенсированный вихретоковый преобразователь. Его выходной сигнал в комплексном виде представлен действительной и мнимой составляющими на комплексной плоскости, что позволяет реализовать амплитудно-фазовый метод вихретокового неразрушающего контроля. Описан разработанный метод двухпараметровой обработки сигнала, основанный на алгоритме определения принадлежности точки многоугольнику. Для его реализации используется двухмерная градуировка толщиномера с использованием нескольких образцовых оснований с разной удельной электрической проводимостью, которая на комплексной плоскости отображается в виде веерообразной сетки. Указанный алгоритм определяет, какому участку этой сетки принадлежит сигнал вихретокового преобразователя, а порядковый номер определяемого участка является одновременно мерой толщины покрытия и удельной электрической проводимости основания как независимых величин. Описана методика выбора количества градуировочных точек, основанная на выборе оптимального интервала между ними по критериям вероятности распределения результатов измерений. Разработана установка - имитатор толщины неэлектропроводящих покрытий, соединяемая двухсторонней связью с градуируемым толщиномером и реализующая его автоматическую градуировку. Приведены результаты испытания реализованного метода измерения толщины неэлектропроводящего покрытия на немагнитном металлическом основании, показавшие уменьшение отклонения результатов измерения толщины покрытия под влиянием удельной электрической проводимости основания на два порядка.Библиографические ссылки
Сясько В. А., Голубев С. С., Ивкин А. Е. Опыт разработки средств измерения толщины функциональных покрытий огнестрельного стрелкового оружия // Вестник ИжГТУ имени М. Т. Калашникова. 2019. Т. 22, № 3. С. 11-18. DOI: 10.22213/2413-1172-2019-3-11-18. EDN XNAYRV.
Сясько В. А., Гнивуш И. С., Мусихин А. С. Влияние мешающих параметров при электроискровом контроле лакокрасочных покрытий // Вестник ИжГТУ имени М. Т. Калашникова. 2023. Т. 26, № 2. С. 26-33. DOI: 10.22213/2413-1172-2023-2-26-33. EDN RDDWKE.
Сясько М. В., Соловьев И. П., Соломенчук П. В. Повышение точности конечно-элементного моделирования высокочастотного вихретокового преобразователя // Контроль. Диагностика. 2024. № 6. С. 4-14. DOI: 10.14489/td.2024.06.pp.004-017
Сясько М. В., Соловьев И. П., Соломенчук П. В. Технологии автоматической градуировки и поверки двухпараметровых вихретоковых толщиномеров диэлектрических покрытий // Дефектоскопия. 2024. № 6. С. 46-50.
Gogolinskii K.V., Syasko V. A. (2019) [Actual metrological and legal issues of non-destructive testing]: Journal of Physics: Conference Series: electronic collection, St Petersburg, 02-05 июля 2019 года. St Petersburg: IOP Publishing, vol. 1379, p. 012045. DOI: 10.1088/1742-6596/1379/1/012045. EDN GYJQAN
Вихревой контроль глубины проплавления торцевых сварных швов стальных пластин резистивных элементов коммутирующей аппаратуры / П. В. Соломенчук, В. А. Сясько, Т. М. Гурьева [и др.] // Сварка и диагностика. 2021. № 6. С. 43-47. DOI: 10.52177/2071-5234_2021_06_43. EDN LGGJJK
Кудж С. А., Цветков В. Я. Сравнительный анализ : монография. М. : МАКС Пресс, 2020. 144 с. ISBN 978-5-317-06393-1. EDN UHKSMW
Ласло М. Вычислительная геометрия и компьютерная графика на С++ : пер. с англ. М. : БИНОМ, 1997. 304 с.
Измерение электромагнитных параметров мер толщины металлических покрытий / В. А. Сясько, С. С. Голубев, Я. Г. Смородинский [и др.] // Дефектоскопия. 2018. № 10. С. 25-36. DOI: 10.1134/S0130308218100044. EDN YMRUOT
Патент № 2808437 C1 Российская Федерация, МПК G01N 27/90. Вихретоковый преобразователь тангенциального типа с активным экранированием : № 2023116472 / А. Е. Горбунов, А. Е. Ивкин, В. А. Сясько ; заявитель: федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования «Санкт-Петербургский горный университет». EDN LXQONI
Зыбов В. Н. Моделирование функции преобразования первичного преобразователя в задачах многофакторных измерений // Измерительная техника. 2006. № 4. С. 26-31.
Gogolinskiy K.V., Syasko V.A. (2020) Metrological Assurance and Standardization of Advanced Tools and Technologies for nondestructive Testing and Condition Monitoring (NDT4.0). Research in Nondestructive Evaluation, vol. 31, no. 5-6, pp. 325-339. DOI: 10.1080/09349847.2020.1841863. EDN JSZFNC
Сясько В. А., Ивкин А. Е. Обеспечение достоверности результатов измерений толщины металлических покрытий магнитными и вихретоковыми методами в условиях машиностроительных производств // Метрология. 2011. № 2. С. 3-12.
Benzarti Z., Khalfallah A. (2024) Recent Advances in the Development of Thin Films. Coatings, vol. 14, no. 878. DOI: 10.3390/books978-3-7258-1856-3
Перспективные материалы и покрытия для производства и ремонта газотурбинных двигателей и установок / А. Ахметгареева, Л. Балдаев, И. Мазилин, С. Югай // Газотурбинные технологии. 2022. № 2(185). С. 30-34. EDN ZXOBCP
Атавин В. Г., Узких А. А., Исхужин Р. Р. Отстройка от электропроводности основания при измерении толщины токопроводящих покрытий методом вихревых токов // Дефектоскопия. 2018. № 1. С. 58-64. EDN YLUOUC
Атавин В. Г., Исхужин Р. Р., Терехов А. И. Измерение толщины токопроводящих покрытий с отстройкой от зазора и электропроводности основания // Дефектоскопия. 2016. № 5. С. 32-35.
Сясько М. В., Соловьев И. П., Соломенчук П. В. Методика измерения толщины неэлектропроводящего покрытия на немагнитном электропроводящем основании с автоматическим учетом влияния удельной электропроводности основания // Дефектоскопия. 2023. № 7. С. 58-60. DOI: 10.31857/S0130308223070060. EDN DWTPBN
Сясько В. А. Измерение толщины неферромагнитных металлических покрытий на изделиях из цветных металлов с использованием вихретокового частотного метода // Дефектоскопия. 2010. № 12. С. 39-48.
Потапов А. И., Сясько В. А. Неразрушающие методы и средства контроля толщины покрытий и изделий» : справочное пособие. Санкт-Петербург. - СПб. : Гуманистика, 2009. 1100 с.
Загрузки
Опубликован
Как цитировать
Выпуск
Раздел
Лицензия
Copyright (c) 2024 Михаил Владимирович Сясько
Это произведение доступно по лицензии Creative Commons «Attribution» («Атрибуция») 4.0 Всемирная.