Гуляев, П. В.; Гафаров, М. Р.; Шелковников, Ю. К.; Тюриков, А. В.; Кизнерцев, С. Р. Применение зондовой микроскопии для контроля размеров и анализа дисперсности наночастиц. Вестн. Ижевск. гос. тех. унив. 2011, 119-122.