[1]
П. В. Гуляев, М. Р. Гафаров, Ю. К. Шелковников, А. В. Тюриков, и С. Р. Кизнерцев, «Применение зондовой микроскопии для контроля размеров и анализа дисперсности наночастиц», Вестн. Ижевск. гос. тех. унив., вып. 4, сс. 119–122, дек. 2011.