[1]
В. А. Кузнецова и В. В. Муравьев, «Прогнозирование сохраняемости танталовых оксидно-полупроводниковых чип-конденсаторов по временной зависимости», Вестн. Ижевск. гос. тех. унив., т. 19, вып. 4, сс. 69–72, май 2017.