Гуляев ПВ, Гафаров МР, Шелковников ЮК, Тюриков АВ, Кизнерцев СР. Применение зондовой микроскопии для контроля размеров и анализа дисперсности наночастиц. Вестн. Ижевск. гос. тех. унив. [Интернет]. 15 декабрь 2011 г. [цитируется по 27 апрель 2024 г.];(4):119-22. доступно на: https://izdat.istu.ru/index.php/vestnik/article/view/2625