Разработка методики и средств автоматической идентификации электрофизических параметров образцов многослойных пленочных резистивно-емкостных сред
Ключевые слова:
RC-элемент с распределенными параметрами, фрактальный элемент, диагностическая измерительная система, идентификация параметров пленочных структурАннотация
Рассмотрены методика и комплекс измерительных средств для параметрической идентификации RC-элементов с распределенными параметрами, необходимой для создания точных математических моделей, для совершенствования технологии изготовления элементов и дальнейшего продвижения новой элементной базы на рынок электронных компонентов. Разработана измерительная система, обеспечивающая оперативное диагностирование и количественную оценку параметров любых образцов RC-элементов с распределенными параметрами в автоматическом режиме.Библиографические ссылки
Потапов А. А., Гильмутдинов А. Х., Ушаков П. А. Фрактальные элементы и радиосистемы: Физические аспекты / под. ред. А. А. Потапова. – М. : Радиотехника, 2009. – 200 с.
Ушаков П. А., Гильмутдинов А. Х., Потапов А. А. Применение резистивно-емкостных элементов с распределенными параметрами и фрактальной размерностью: прошлое, настоящее и будущее // Нелинейный мир. – 2008. – Т. 6, № 3. – С. 183–213.
Гильмутдинов А. Х. Резистивно-емкостные элементы с распределенными параметрами: анализ, синтез и применение. – Казань : Изд-во КГТУ, 2005. – 350 с.
Ушаков П. А. Методы анализа и синтеза многослойных неоднородных RC-элементов с распределенными параметрами и устройств на их основе : автореф. дис. … д-ра техн. наук. – Казань : КГТУ, 2009. – 35 с.
Ushakov, P. A., Maksimov, K. O., Filippov, A. V. Research of fractal thick-film elements frequency responses // 11-th International conference and seminar on micro/nanotechnologies and electron devices proceedings. – Novosibirsk : NSTU, 2010. – Pp. 165-167.
