Development of technique and means of automated identifying the electro physical parameters of specimens of multilayer film RC-structures
Keywords:
RC-element with distributed parameters, fractal element, diagnostic measurement system, parametric identification of film structuresAbstract
The paper considers the technique and measurement system for parametric identification of RC-elements with distributed parameters, the identification being necessary to create precise mathematical models, to improve the technique of element production and to promote the new elemental base to the market of electronic components. The measurement system, providing the automated operative parametric diagnostics and quantitative assessment for all RC-elements with distributed parameters is developed.References
Потапов А. А., Гильмутдинов А. Х., Ушаков П. А. Фрактальные элементы и радиосистемы: Физические аспекты / под. ред. А. А. Потапова. – М. : Радиотехника, 2009. – 200 с.
Ушаков П. А., Гильмутдинов А. Х., Потапов А. А. Применение резистивно-емкостных элементов с распределенными параметрами и фрактальной размерностью: прошлое, настоящее и будущее // Нелинейный мир. – 2008. – Т. 6, № 3. – С. 183–213.
Гильмутдинов А. Х. Резистивно-емкостные элементы с распределенными параметрами: анализ, синтез и применение. – Казань : Изд-во КГТУ, 2005. – 350 с.
Ушаков П. А. Методы анализа и синтеза многослойных неоднородных RC-элементов с распределенными параметрами и устройств на их основе : автореф. дис. … д-ра техн. наук. – Казань : КГТУ, 2009. – 35 с.
Ushakov, P. A., Maksimov, K. O., Filippov, A. V. Research of fractal thick-film elements frequency responses // 11-th International conference and seminar on micro/nanotechnologies and electron devices proceedings. – Novosibirsk : NSTU, 2010. – Pp. 165-167.
