ТЕСТИРОВАНИЕ ЦИФРОВЫХ МИКРОСХЕМ И ПРОГРАММИРОВАНИЕ СТЕНДОВОГО ОБОРУДОВАНИЯ «FORMULA 2K» ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ПАРАМЕТРОВ

Авторы

  • А. Н. Копысов ИжГТУ имени М. Т. Калашникова
  • Р. А. Хатбуллин ИжГТУ имени М. Т. Калашникова
  • В. В. Хворенков ИжГТУ имени М. Т. Калашникова
  • Ф. М. Ермаков ИжГТУ имени М. Т. Калашникова
  • К. А. Зырянов ИжГТУ имени М. Т. Калашникова

DOI:

https://doi.org/10.22213/2410-9304-2017-4-29-34

Ключевые слова:

тестирование микросхем, контактирующее устройство, переходная плата

Аннотация

В данной статье рассматривается один из способов тестирования цифровых микросхем, а именно, тестирование с помощью стендового оборудования Formula 2k. Тестирование позволяет повысить качество выпускаемой продукции благодаря отбраковке некачественных элементов, в чем заинтересован конечный потребитель. Тестирование микросхем предполагает решение таких задач, как подготовка конструкторской документации, разработка программного обеспечения для тестирования оборудования и его отладки. Исходным материалом для этого является техническая документация на проверяемую микросхему. Из документации выбираются важнейшие параметры, позволяющие судить о качестве микросхемы при ее тестировании. На основе этих выбранных параметров создается печатная плата для их измерения. В ходе подготовки к тестированию используется программное обеспечение для создания переходной платы. Для нее конструкторская документация разрабатывается на базе пакета программ AltiumDesigner. Для подключения микросхемы к переходной плате используется специальное контактирующее устройство. Оно также создается в среде AltiumDesignerисходя из схем его устройства. Это контактирующее устройство связывает выводы микросхемы с контактными площадками на переходной плате. На основе технических условий и Datasheet для тестируемой микросхемы определяются допуски на значения параметров, которые необходимы для измерения. Исходя из этих данных производится разработка программного обеспечения на специализированном языке тестера Sinopи, выполняется настройка тестера для проведения измерений. После выполнения отладки и всех измерений формируются выходные данные измеряемых параметров. Если все измеряемые параметры соответствуют заявленным, микросхема проходит контроль, в ином случае она отбраковывается.

Биографии авторов

А. Н. Копысов, ИжГТУ имени М. Т. Калашникова

кандидат технических наук, доцент, зав. кафедрой «Радиотехника»

Р. А. Хатбуллин, ИжГТУ имени М. Т. Калашникова

кандидат технических наук, доцент, доцент кафедры «Сети связи и телекоммуникационные системы»

В. В. Хворенков, ИжГТУ имени М. Т. Калашникова

доктор технических наук, профессор

Ф. М. Ермаков, ИжГТУ имени М. Т. Калашникова

студент

К. А. Зырянов, ИжГТУ имени М. Т. Калашникова

студент кафедры «Радиотехника»

Библиографические ссылки

Сабунин А. Е. Altium Designer. Новые решения в проектировании электронных устройств. М. : Солон-пресс, 2009. 432 c.

Система контрольно-измерительная для контроля БИС и ИМС // Тестер FORMULA 2K Руководство по эксплуатации ФОРМ, редакция 14.

Тестирование цифровых микросхем и подготовка стендового оборудования для измерения параметров / Ф. М. Ермаков, К. А. Зырянов, А. Н. Копысов, Р. А. Хатбуллин, К. А. Мерзляков // Приборостроение в XXI веке - 2016. Интеграция науки, образования и производства. Ижевск, 2016. С. 476-483.

Загрузки

Опубликован

25.12.2017

Как цитировать

Копысов, А. Н., Хатбуллин, Р. А., Хворенков, В. В., Ермаков, Ф. М., & Зырянов, К. А. (2017). ТЕСТИРОВАНИЕ ЦИФРОВЫХ МИКРОСХЕМ И ПРОГРАММИРОВАНИЕ СТЕНДОВОГО ОБОРУДОВАНИЯ «FORMULA 2K» ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ПАРАМЕТРОВ. Интеллектуальные системы в производстве, 15(4), 29–34. https://doi.org/10.22213/2410-9304-2017-4-29-34

Выпуск

Раздел

Статьи