Calculation and simulation of transients during surge current test of tantalum capacitors
Keywords:
танталовый конденсатор, схема замещения, SPICE-модель, переходные процессыAbstract
The mathematical model of transients during charging of tantalum capacitors is created. Transients are calculated using Mathcad. The effect of frequency response on transients is revealed. The effect of equivalent circuit of tantalum capacitors on results of transients calculation is analyzed.
References
Teverovsky A. Effect of inductance and requirements for surge current testing of tantalum capacitors // CARTS-CONFERENCE. – COMPONENTS TECHNOLOGY INSTI-TUTE INC. – 2006. – Т. 26. – P. 363.
Сибгатуллин Б. И. Разработка и исследование режимов импульсного тестирования конденсаторов : дис. … магистра. – Ижевск, ИжГТУ, 2014. – 78 с.
Селетков С. Г. Проблема, цель, задача в диссертации // Достижения и перспективы психологии и педагогики : сб-к статей Междунар. науч.-практ. конф. – Уфа, 2014. – С. 35–38.
Gill J. Surge in solid tantalum capacitors //AVX (July, 1994). – 1995.
Holland H. W. Effects of High Сurrent Transients on Solid Tantalum Capacitors // Electronic Equipment News (March, 1976) pp. – 1976. – P. 20–21.
Franklin R. W. Surge current testing of resin dipped tantalum capacitors // AVX technical information. – 1985.
Franklin R. W. Equivalent series resistance of tantalum capacitors // AVX technical information.
Prymak J. Capacitors EDA models with compensations for frequency, Temperature and DC bias // CARTS-CONFERENCE – Electronic Components Association, 2010.
Prymak J. SPICE modeling of capacitors // CARTS-CONFERENCE – COMPONENTS TECHNOLOGY INSTI-TUTE INC. – 1995. – P. 39.
Ibid.
Сибгатуллин Б. И., Барсуков В. К. Влияние параметров стенда импульсного тестирования на результаты испытаний // Интеллектуальные системы в производстве. – 2014. – № 2 (24). – С. 195–202.
URL: http://webspice.kemet.com.
Там же.
Там же.