Управление качеством танталовых конденсаторов на основе анализа дефектов, возникающих на этапах технологического процесса и обнаруживаемых при эксплуатации
DOI:
https://doi.org/10.22213/2413-1172-2018-1-74-81Ключевые слова:
танталовый конденсатор, качество, дефект, технологический процессАннотация
Для оценки уровня надежности танталовых конденсаторов с целью принятия своевременных корректирующих и предупреждающих мер на этапе технологического процесса по исключению и недопущению выпуска продукции с потенциальными дефектами разработана методика системного межэтапного комплексного анализа качества танталовых конденсаторов. Модель базируется на исследовании видов и последствий вероятностных дефектов, проявляющихся как на стадии производства и в процессе квалификационных, периодических или типовых испытаний на предприятии-изготовителе, так и в процессе эксплуатации, в том числе при входном контроле, производстве, испытаниях и непосредственно при работе или эксплуатации в конечном устройстве на предприятиях у потребителя. Для более объективной оценки и для принятия решения о необходимости и целесообразности совершенствования изделий и удовлетворения требований, предъявляемых потребителями к конденсаторам, в качестве объекта исследования выступают все забракованные изделия вне зависимости от того, были они признаны некачественными по вине потребителя или по вине изготовителя. Представленная модель позволяет управлять качеством танталовых конденсаторов на основе учета видов и последствий потенциальных дефектов, возникающих на этапах технологического процесса и обнаруживаемых в процессе эксплуатации. Приведена первичная апробация методики системного статистического анализа качества танталовых конденсаторов.Библиографические ссылки
Исследование влияния на эксплуатационные характеристики качества материалов танталовых оксидно-полупроводниковых чип-конденсаторов / В. А. Кузнецова, П. Л. Кузнецов, Е. А. Беляева, В. В. Муравьев // Интеллектуальные системы в производстве. 2013. № 2. С. 140-143.
Кузнецова В. А., Кузнецов П. Л., Муравьев В. В. Исследование надежности танталовых оксидно-полупроводниковых чип-конденсаторов на основе экспериментальных данных // Вестник ИжГТУ. 2013. № 3(59). С. 88-91.
Кузнецов П. Л., Кузнецова В. А., Ломаев Г. В. Исследование влияния характеристик технологического процесса изготовления на изменения эксплуатационных характеристик танталовых объемно-пористых конденсаторов во времени // Вестник ИжГТУ. 2014. № 1(61). С. 11-15.
Барсуков В. К., Сибгатуллин Б. И. Стенд для испытаний танталовых конденсаторов импульсным током // Интеллектуальные системы в производстве. 2015. № 3(27). С. 63-66.
Арефьев И. Б., Клавдиев А. А., Воловик А. В. Метод оценки технического уровня изделия по мониторингу рекламаций в системе управления качеством производства // Программные продукты и системы. 2014. № 3(107). С. 86-92.
Вахрушева Н. О. Совершенствование системы менеджмента качества организаций с использованием контроллинга : дис. … канд. техн. наук: 05.02.23 / Наталья Олеговна Вахрушева. Ижевск, 2010.
Воронцов В. Н. Контроль качества и прогнозирование надежности изделий электронной техники по электрофизическим параметрам : дис. … канд. техн. наук: 05.11.13 / Владимир Николаевич Воронцов. СПб., 2002. 308 с.
Предотвращение отказов танталовых чип-конденсаторов на этапе производства / С. В. Горелов, Е. С. Игнатенко, К. Н. Морев, В. И. Никулин // Научные проблемы транспорта Сибири и Дальнего Востока. 2016. № 3-4. С. 135-138.
Кай А. Танталовые конденсаторы. Особенности применения. Ч 1 // Электронные компоненты. 2000. № 3. С. 21-23.
Кай А. Танталовые конденсаторы. Особенности применения. Ч. 2 // Электронные компоненты. 2000. № 4. С. 30-35.
Кай А. Танталовые конденсаторы. Особенности применения. Ч 3 // Электронные компоненты. 2000. № 5. С. 32-35.
Назаренко М. А., Баранова И. А., Хронусова Т. В. Современное моделирование процессов рекламационной деятельности // Методы менеджмента качества. 2017. № 5. С. 40-44.
