Модель оценки срока службы светодиодных осветительных приборов с учетом системных факторов эксплуатации

Авторы

  • В. П. Кузьменко Санкт-Петербургский государственный университет аэрокосмического приборостроения

DOI:

https://doi.org/10.22213/2413-1172-2025-4-12-21

Ключевые слова:

светодиодные осветительные приборы, светодиодный источник света, оценка качества, срок службы, моделирование ресурса изделия

Аннотация

В работе представлена концепция многоуровневой модели прогнозирования срока службы осветительных приборов на основе полупроводниковых источников света, учитывающая системные факторы эксплуатации и деградацию сопряженных компонентов. В отличие от стандартных методик оценки, ограничивающихся анализом снижения светового потока светодиода, предложенный подход охватывает также изменения координат цветности, уровень пульсаций светового излучения и отказоустойчивость узла питания. Модель строится на физически обоснованных законах и включает оценку деградации кристаллической структуры, фотолюминесцентных материалов, оптических элементов, а также ресурсоопределяющих компонентов источника питания. Ключевым элементом является переход от ускоренных испытаний к реальным условиям эксплуатации с использованием приведенного времени, рассчитываемого на основе температурной, электрической, влажностной и ультрафиолетовой нагрузки. Интегральная функция надежности формируется на основе совместного учета частных критериев отказа, что позволяет учитывать статистическую зависимость между механизмами деградации. Модель валидирована с использованием экспериментальных данных, полученных в серии испытаний при различных нагрузках. Приведены результаты численного моделирования, подтверждающие корректность методики согласования форм деградации и коэффициентов ускорения. Предложенный подход обеспечивает как воспроизводимость результатов для целей серийного контроля, так и применимость для расчета ожидаемых затрат на гарантийное обслуживание. Разработанная концепция модели может быть интегрирована в практику управления качеством на производстве осветительных приборов с целью повышения точности оценки ресурса и выявления конструктивно уязвимых элементов на этапе проектирования.

Биография автора

В. П. Кузьменко, Санкт-Петербургский государственный университет аэрокосмического приборостроения

кандидат технических наук, доцент

Библиографические ссылки

Ahmad A.E.-B.A., Ghazal M.G.M. (2020) Exponentiated additive Weibull distribution // Reliability Engineering & System Safety, vol. 193, 106663. DOI: 10.1016/j.ress.2019.106663

Albassam M., Ahsan-Ul-Haq M., Aslam M. (2023) Weibull distribution under indeterminacy with applications // AIMS Mathematics, vol. 8, pp. 10745-10757. DOI: 10.3934/ math.2023545

ANSI/IES TM-28-20. Projecting Long-Term Luminous Flux Maintenance of LED Lamps and Luminaires. New York: Illuminating Engineering Society, 2020 (Technical Memorandum).

Cao Y., Yuan W., Chen W., Li M., Fan J., Zhang G. (2020) Predicting of luminous flux for a LED array using artificial neural network // IEEE Proceedings of the 2020: 21st International Conference on Thermal, Mechanical and Multi-Physics Simulation and Experiments in Microelectronics and Microsystems (EuroSimE), Cracow. DOI: 10.1109/ EuroSimE48426.2020.9152620

Zhou Z.H., Ma J.M., Liu Q.Q., Zeng Q., Tian X. (2022) A kind of fast Gaussian particle filter based on artificial fish school algorithm // Journal of Control and Decision, vol. 9, pp. 175-185. DOI: 10.1080/23307706.2021.1934129

Кузьменко В. П., Солёный С. В. Модель предиктивного обслуживания для управления качеством сетей светодиодного освещения // Вестник МГТУ им. Г. И. Носова. 2023. № 3 [Электронный ресурс]. URL: https://cyberleninka.ru/article/n/model-prediktivnogo-obsluzhivaniya-dlya-upravleniya-kachestvom-setey-svetodiodnogo-osvescheniya (дата обращения: 03.09.2025).

Кузьменко В. П., Солёный С. В., Солёная О. Я. Управление качеством светодиодных осветительных приборов : монография. Санкт-Петербург : Санкт-Петербургский государственный университет аэрокосмического приборостроения (ГУАП), 2024. 184 с. ISBN 978-5-8088-1907-8

Кораблев В. А., Минкин Д. А. Исследование влияния теплового режима на интенсивность излучения полупроводниковых источников света // Приборостроение. 2025. № 4 [Электронный ресурс]. URL: https://cyberleninka.ru/article/n/issledovanie-vliyaniya-teplovogo-rezhima-na-intensivnost-izlucheniya-poluprovodnikovyh-istochnikov-sveta (дата обращения: 03.09.2025).

Rocchetta R., Dersin P., Perrone E. (2024) A survey on LED Prognostics and Health Management and uncertainty reduction // Microelectronics Reliability, vol. 157, 115399. DOI: 10.1016/j.microrel.2024.115399

Чирков О. Н., Антиликаторов А. Б., Шкаровский К. М., Тамбовцев М. Н. Оптимизации оценки качества полупроводниковых пластин с помощью нейротехнологий CNN // Вестник Воронежского государственного технического университета. 2025. Т. 21, № 1. С. 81-87. DOI: 10.36622/1729-6501.2025.21.1.012

La Q.T., Vintr Z., Vališ D., Žák L., Kohl Z. (2025) Reliability testing and machine learning approach for modelling high-power light-emitting diode reliability // MATEC Web of Conferences, vol. 413, 03005. DOI: 10.1051/matecconf/ 202541303005

Tan K.-Z., Lee S.-K., Low H.-C. (2021) LED lifetime prediction under thermal-electrical stress // IEEE Transactions on Device and Materials Reliability, vol. 21, no. 3, pp. 310-319. DOI: 10.1109/TDMR.2021.3085579

Палабугин М. В., Калюжный Д. Г. Современное состояние лазерных технологий в области нанесения функциональных покрытий // Вестник ИжГТУ имени М. Т. Калашникова. 2023. Т. 26, № 1. С. 13-22. DOI: 10.22213/2413-1172-2023-1-13-22

Кузьменко В. П. Контроль качества светодиодных источников света на основе фрактального моделирования температурного поля // Известия Самарского научного центра РАН. 2025. Т. 27, № 3. С. 99-109. DOI: 10.37313/ 1990-5378-2025-27-3-99-109

Vyas R., Navin K., Tripathi G.K., Kurchania R. (2021) Structural, magnetic, photocatalytic, and electrochemical studies of the mesoporous nickel oxide (NiO) nanostructures // Optik, vol. 231, 166433. DOI: 10.1016/j.ijleo.2021.166433

Маняхин Ф. И., Мокрецова Л. О. Закономерность снижения квантового выхода светодиодов с квантовыми ямами при длительном протекании тока с позиции модели ABC // Светотехника. 2021. № 3. С. 29-35.

Электрофизические причины ограничения эксплуатационных режимов светодиодов с квантовыми ямами / Ф. И. Маняхин, Л. О. Мокрецова, А. А. Скворцов, Д. О. Варламов // Светотехника. 2025. № 3. С. 20-26.

Lokesh J., Kini S., Padmasali A. (2025) Color-Based Lifetime Estimation of LEDs Using Spectral Power Distribution Prediction Through Analytical and Machine Learning Models // IEEE Access, vol. 13, 61665-61674. DOI: 10.1109/ ACCESS.2025.3558559

Ke X., Wang X., Qin H., Liang J. (2023) Experimental Study on Chromaticity Control in Visible Light Communication Systems // Photonics, vol. 10, 1013. DOI: 10.3390/ photonics10091013

Ibrahim M.S., Fan J., Yung W.K.C., Jing Z., Fan X., Van Driel W., Zhang G. (2021) System-level reliability assessment for high-power light-emitting diode lamp based on a Bayesian network method // Measurement, vol. 176, 109191. DOI: 10.1016/j.measurement.2021.109191

Загрузки

Опубликован

28.12.2025

Как цитировать

Кузьменко, В. П. (2025). Модель оценки срока службы светодиодных осветительных приборов с учетом системных факторов эксплуатации. Вестник ИжГТУ имени М.Т. Калашникова, 28(4), 12–21. https://doi.org/10.22213/2413-1172-2025-4-12-21

Выпуск

Раздел

Статьи