Design and Substantiation of Structural Model of Thick-Film R-C-NR-Elements with Distributed Parameters
Keywords:
RC-element with distributed parameters, fractal element, model identificationAbstract
An approach to construction of the compound structural model of thick-film RC-elements with distributed parameters (RC-EDP) from the base constructive elements considering design and technological features of their manufacturing is presented. Quantitative and quality adequacy estimation of the developed structural model is given by means of experimental RC-EDP sample party.References
Ушаков П. А., Гильмутдинов А. Х. Пленочные резистивно-емкостные элементы с распределенными параметрами: конструкции, применение, перспективы // Датчики и системы. - 2003. - № 7. - С. 63-70.
Ушаков П. А., Потапов А. А., Гильмутдинов А. Х. Системные принципы и элементная база фрактальной радиоэлектроники. Ч. I // Радиотехника и электроника. - 2008. - Т. 53. - № 9. - С. 1033-1080.
Ушаков П. А., Гильмутдинов А. Х., Потапов А. А. Применение резистивно-емкостных элементов с распределенными параметрами и фрактальной размерностью: прошлое, настоящее и будущее // Нелинейный мир. - 2008. - Т. 6. - № 3. - С. 183-213.
Ушаков П. А. Методы анализа и синтеза многослойных неоднородных RC-элементов с распределенными параметрами и устройств на их основе : автореф. дис. … д-ра техн. наук. - Казань : КГТУ, 2009. - 35 с.
Ушаков П. А., Красноперов К. В., Филиппов А. В. Математические модели RC-элементов с распределенными параметрами со структурой слоев вида R-CG-NR // Вестник ИжГТУ. - 2008. - № 2. - С. 54-57.
Филиппов А. В. Структурно-параметрический синтез резистивно-емкостных элементов с распределенными параметрами со структурой слоев R-CG-NR : автореф. дис. … канд. техн. наук. - Ижевск : ИжГТУ, 2010. - 18 с.
Максимов К. О., Ушаков П. А., Тарануха В. П. Методика идентификации параметров RC-элементов с распределенными параметрами со структурой слоев R-CG-NR // Приборостроение в XXI веке. - Ижевск : Изд-во ИжГТУ, 2010.
Maksimov K. O., Ushakov P. A., Filippov A. V. Research of fractal thick-film elements frequency responses // 11-th International conference and seminar on micro/nanotechnologies and electron devices proceedings. - Novosibirsk : NSTU, 2010. - P. 165-167.