Research of Influence of Characteristics of Manufacturing Process on Changes of Operational Characteristics of Tantalum Wet Capacitors in Time
Keywords:
tantalum wet capacitors, field-performance data of production processAbstract
Investigations of influence of manufacturing operations on change of field-performance data of tantalum wet capacitors were carried out by means of statistical methods.References
Кузнецов П. Л. Проблемы контроля качества оксидно-полупроводниковых конденсаторов при использовании «Inrush-test» // Приборостроение в XXI веке - 2011. Интеграция науки, образования производства : сб. материалов VII Всерос. науч.-техн. конф. с междунар. участием, посвященной 50-летию приборостроительного факультета (Ижевск, 15-17 ноября 2011 г.). - Ижевск : Изд-во ИжГТУ, 2012. - 504 с.
Кузнецов П. Л., Кузнецова В. А. Комплексный подход к обеспечению качества при производстве электролитических конденсаторов и ионисторов // Молодые ученые - ускорению научно-технического прогресса в XXI веке [Электронный ресурс] : сб. тр. II Всерос. науч.-техн. конф. аспирантов, магистрантов и молодых ученых с междунар. участием (Ижевск, 23-25 апреля 2013 г.). - Ижевск, 2013. - 1415 c. - ISBN 978-5-7526-0603-8.
Факторы, определяющие емкость танталового оксидного конденсатора на стадии изготовления анода / В. А. Кузнецова, П. Л. Кузнецов, А. А. Масалев, В. В. Муравьев // Тр. II Междунар. конф. «Влияние высокоэнергетических воздействий на структуру и свойства конструкционных материалов» (23-30 сентября 2013 г.). - В 2 т. - Т. 1. / под ред. В. Е. Громова. - Новокузнецк : Изд-во СибГИУ, 2013. - С. 233-239. - Серия «Фундаментальные проблемы современного материаловедения».
Кузнецова В. А., Кузнецов П. Л., Муравьев В. В. Исследование надежности танталовых оксидно-полупроводниковых чип-конденсаторов на основе экспериментальных данных // Вестник ИжГТУ. - 2013. - № 3(59). - С. 88-91.
ОСТ 11026-84. Конденсаторы постоянной емкости объемно-пористые танталовые. Общие технические условия.
