Forecasting the Persistence of Tantalum Chip-Capacitors Depending on Time
DOI:
https://doi.org/10.22213/2413-1172-2016-4-69-72Keywords:
tantalum chip-capacitors, performance characteristics, persistence, methodAbstract
Investigations of tantalum chip-capacitors by time dependence forecasting were made through an accelerated evaluation method of persistence.References
Кузнецова В. А., Кузнецов П. Л., Муравьев В. В. Исследование надежности танталовых оксидно-полупроводниковых чип-конденсаторов на основе экспериментальных данных // Вестник ИжГТУ имени М. Т. Калашникова. - 2013. - № 3(59). - С. 88-91.
Кузнецов П. Л., Кузнецова В. А., Ломаев Г. В. Исследование влияния характеристик технологического процесса изготовления на изменения эксплуатационных характеристик танталовых объемно-пористых конденсаторов во времени // Вестник ИжГТУ имени М. Т. Калашникова. - 2014. - № 1(61). - с. 11-15.
Исследование влияния на эксплуатационные характеристики качества материалов танталовых оксидно-полупроводниковых чип-конденсаторов / В. А. Кузнецова, П. Л. Кузнецов, Е. А. Беляева, В. В. Муравьев // Интеллектуальные системы в производстве. - 2013. - № 2. - С. 140-143.
Беляева Е. А., Кузнецова В. А., Муравьев В. В. Исследование влияния срока сохраняемости на эксплуатационные характеристики и состояние объемно-пористых танталовых конденсаторов // Интеллектуальные системы в производстве. - 2014. - № 1. - С. 96-99.
Сибгатуллин Б. И., Барсуков В. К. Расчет и моделирование переходных процессов при испытаниях танталовых конденсаторов импульсным током // Интеллектуальные системы в производстве. - 2015. - № 1. - С. 115-120.
Сибгатуллин Б. И., Барсуков В. К. Механизмы отказов танталовых конденсаторов в установившихся и переходных режимах работы // Электротехнические комплексы и системы. - 2015. - С. 185-189.
Электроимпульсная консолидация танталовых анодов для электролитических конденсаторов / М. С. Юрлова, Е. Г. Григорьев, Е. А. Олевский, В. Д. Деменюк // Физика и химия обработки материалов. - 2014. - № 5. - С. 82-90.
Кузнецова В. А., Кузнецов П. Л., Муравьев В. В. Указ. соч.
Сибгатуллин Б. И., Барсуков В. К. Расчет и моделирование переходных процессов при испытаниях танталовых конденсаторов импульсным током.
Сибгатуллин Б. И., Барсуков В. К. Механизмы отказов танталовых конденсаторов в установившихся и переходных режимах работы.
Исследование влияния на эксплуатационные характеристики качества материалов танталовых оксидно-полупроводниковых чип-конденсаторов.
Беляева Е. А., Кузнецова В. А., Муравьев В. В. Указ. соч.
Кузнецова В. А., Кузнецов П. Л., Муравьев В. В. Указ. соч.
