Glass Ceramics Surface Topology Investigation by the Atomic Force Microscopy in a Tapping Mode
Keywords:
glass ceramics, scanning probe microscopy, surface topologyAbstract
The results of the surface topology study of a glass ceramic СТ-50-1 substrate after the effect of СО2-laser radiation are presented. Three-dimensional images using a scanning probe microscope Solver P47 Pro in a tapping mode of the atomic-force microscopy are obtained. The analysis of the images obtained has been carried out.References
Бесогонов В. В., Скворцова И. Н. Прецизионный контроль топологии поверхности ситалловых подложек СТ 50-1 // Измерит. техника. - 2010. - № 3. - С. 68-70.
Миронов В. Л. Основы сканирующей зондовой микросокпии : учеб. пособие для вузов / Ин-т физики микроструктур РАН (Нижний Новогород). - М. : Техносфера, 2004. - 144 с. - (Мир физики и техники). URL: <http://depositfiles.com/ru/files/26d6aiis0> (дата обращения: 29.04.2011).
Бахтизин Р. З., Галлямов Р. Р. Физические основы сканирующей зондовой микроскопии : учеб. пособие. - Уфа : РИО БашГУ, 2003. - 82 с.
Downloads
Published
15.03.2011
How to Cite
Alekseev В. А., Besogonov В. В., Skvortsova И. Н., Abo Issa Н., & Moussa И. (2011). Glass Ceramics Surface Topology Investigation by the Atomic Force Microscopy in a Tapping Mode. Intellekt. Sist. Proizv., 6(1), 172–177. Retrieved from https://izdat.istu.ru/index.php/ISM/article/view/1787
Issue
Section
Articles