Application of the STRESS TEST Method for Quality Control of Electrolytic Capacitors and Capacitors with a Double Electric Layer
DOI:
https://doi.org/10.22213/2410-9304-2021-2-43-49Keywords:
oxide-electrolytic aluminum capacitors, tantalum capacitors, capacitance, equivalent series resistance, reliability, qualityAbstract
The paper deals with the problem of confirming the long-term reliability of modern capacitor construction in a short time, namely, oxide-electrolytic aluminum capacitors, tantalum capacitors and capacitors with a double electric layer. Special attention is paid to the operational parameters of capacitors - the capacitance and equivalent series resistance. A study of the long-term reliability of oxide-electrolytic aluminum capacitors (3,000 h), tantalum capacitors (24,000 h) and capacitors with a double electric layer (600 h) was carried out, and statistical data on the distribution of capacitance and equivalent series resistance were obtained. In order to reduce the time of conducting tests for long-term reliability, an accelerated method of conducting tests for reliability, the STRESS TEST, was used. Analysis of the results of tests of capacitors for long-term reliability and the STRESS TEST method showed that the use of the STRESS TEST method is permissible when testing tantalum capacitors and oxide-electrolytic aluminum capacitors, since there is a similar nature of changes in electrical parameters as after conducting tests for long-term reliability. However, the use of the STRESS TEST method for capacitors with a double electric layer is not possible due to the excellent structure and requires additional selection of test modes.References
Горбачев В., Кочемасов В., Хорев С. Оксидные конденсаторы // Компоненты и технологии. 2020. № 6 (227). С. 34-39.
Сергеев А. Е., Муратова Э. Д. Концепция использования конденсаторов с двойным электрическим слоем: проблемы и перспективы // Академия педагогических идей. Новация. Серия: Студенческий научный вестник. 2019. № 3. С. 192-194.
Горбачев И. П., Сашов А. А. Метод выявления внутренних дефектов танталовых конденсаторов для снижения количества отказов аппаратуры // Ракетно-космическое приборостроение и информационные системы. 2019. Т. 6. № 1. С. 94-101. DOI 10.30894/ issn2409-0239.2019.6.1.94.101.
Кузнецов П. Л., Ломаев Г. В., Кузнецова В. А. Исследование влияния характеристик технологического процесса изготовления на изменения эксплуатационных характеристик танталовых объемно-пористых конденсаторов во времени // Вестник Ижевского государственного технического университета. 2014. № 1. С. 11-15.
Получение пористых танталовых анодов для электролитических конденсаторов при помощи послойного поточечного электроимпульсного спекания / И. А. Елькин, К. С. Столбов, В. А. Волков [и др.] // Химическая физика и мезоскопия. 2020. Т. 22, № 4. С. 421-433. DOI: 10.15350/17270529. 2020.4.40.
Кузнецова В. А., Муравьев В. В. Ускоренные испытания сохраняемости танталовых конденсаторов с использованием теплового метода // Вестник ИжГТУ имени М. Т. Калашникова. 2018. Т. 21, № 1. С. 82-88. DOI: 10.22213/2413-1172-2018-1-82-88.
Барсуков В. К., Сибгатуллин Б. И. Контроль качества танталовых чип-конденсаторов с помощью испытаний импульсным током // Контроль. Диагностика. 2018. № 3. С. 58-63. DOI: 10.14489/ td.2018.03.pp.058-063.
Кузнецова В. А., Муравьев В. В. Прогнозирование сохраняемости танталовых оксидно-полупроводниковых чип-конденсаторов по временной зависимости // Вестник ИжГТУ имени М. Т. Калашникова. 2016. Т. 19. № 4. С. 69-72. DOI: 10.22213/2413-1172-2016-4-69-72.
Кузнецова В. А., Муравьев В. В. Метод ускоренных испытаний сохраняемости танталовых оксидно-полупроводниковых чип-конденсаторов // Контроль. Диагностика. 2016. № 7. С. 57-60. DOI: 10.14489/td.2016.07.pp.057-060.
Кузнецова В. А., Муравьев В. В. Влияние конструктивных характеристик анода на эксплуатационные параметры оксидно-полупроводниковых танталовых чип-конденсаторов // Вестник Ижевского государственного технического университета. 2014. № 4. С. 105-107.
Беляева Е. А., Муравьев В. В. Управление производством танталовых конденсаторов с жидким электролитом посредством контроля операционного выхода годных // Вестник ИжГТУ имени М. Т. Калашникова. 2015. Т. 18. № 2. С. 72-75.
Беляева Е. А., Муравьев В. В. Влияние пористости и режимов оксидирования анода на качество танталовых конденсаторов с жидким электролитом // Контроль. Диагностика. 2016. № 3. С. 62-70. DOI: 10.14489/td.2016.03.pp.062-070.
Беляева Е. А., Муравьев В. В. Управление качеством танталовых конденсаторов на основе анализа дефектов, возникающих на этапах технологического процесса и обнаруживаемых при эксплуатации // Вестник ИжГТУ имени М. Т. Калашникова. 2018. Т. 21, № 1. С. 74-81. DOI: 10.22213/2413-1172-2018-1-74-81.
Беляева Е. А., Муравьев В. В. Комплексный контроль качества приварки выводов танталовых объемно-пористых конденсаторов // Вестник ИжГТУ имени М. Т. Калашникова. 2018. Т. 21, № 2. С. 147-158. DOI: 10.22213/2413-1172-2018-2-147-158.
Кузнецов П. Л., Муравьев В. В. Контроль качества электролитических танталовых конденсаторов с использованием стресс-теста // Приборы и методы измерений. 2015. № 1. С. 76-80.
