Применение метода «Стресс-тест» при контроле качества электролитических конденсаторов и конденсаторов с двойным электрическим слоем

Павел Леонидович Кузнецов

doi:10.22213/2410-9304-2021-2-43-49

Авторы

П. Л. Кузнецов АО «Элеконд»

DOI:

https://doi.org/10.22213/2410-9304-2021-2-43-49

Ключевые слова:

оксидно-электролитические алюминиевые конденсаторы, объемно-пористые танталовые конденсаторы, емкость, эквивалентное последовательное сопротивление, надежность, качество

Аннотация

В статье рассматривается проблема подтверждения длительной безотказности современного конденсаторостроения в короткие сроки, а именно, оксидно-электролитических алюминиевых конденсаторов, танталовых объемно-пористых конденсаторов и конденсаторов с двойным электрическим слоем. Особое внимание уделяется эксплуатационным параметрам конденсаторов - емкости и эквивалентному последовательному сопротивлению. Проведено исследование длительной безотказности оксидно-электролитических алюминиевых конденсаторов (3000 ч), танталовых объемно-пористых конденсаторов (24 000 ч) и конденсаторов с двойным электрическим слоем (600 ч), получены статистические данные распределения емкости и эквивалентного последовательного сопротивления. Для уменьшения времени испытаний на длительную безотказность был использован ускоренный метод испытаний на надежность стресс-теста. Анализ результатов испытаний конденсаторов на длительную безотказность и методом «Стресс-тест» показал, что применение метода «Стресс-тест» допустимо при испытании объемно-пористых танталовых конденсаторов и оксидно-электролитических алюминиевых конденсаторов, так как прослеживается аналогичный характер изменения электрических параметров, как после проведения испытаний на длительную безотказность. Однако применение метода «Стресс-тест» для конденсаторов с двойным электрическим слоем не представляется возможным в связи с отличной структурой и требует дополнительного подбора режимов проведения испытаний.

Биография автора

П. Л. Кузнецов, АО «Элеконд»

главный метролог, начальник отдела главного метролога

Библиографические ссылки

Горбачев В., Кочемасов В., Хорев С. Оксидные конденсаторы // Компоненты и технологии. 2020. № 6 (227). С. 34-39.

Сергеев А. Е., Муратова Э. Д. Концепция использования конденсаторов с двойным электрическим слоем: проблемы и перспективы // Академия педагогических идей. Новация. Серия: Студенческий научный вестник. 2019. № 3. С. 192-194.

Горбачев И. П., Сашов А. А. Метод выявления внутренних дефектов танталовых конденсаторов для снижения количества отказов аппаратуры // Ракетно-космическое приборостроение и информационные системы. 2019. Т. 6. № 1. С. 94-101. DOI 10.30894/ issn2409-0239.2019.6.1.94.101.

Кузнецов П. Л., Ломаев Г. В., Кузнецова В. А. Исследование влияния характеристик технологического процесса изготовления на изменения эксплуатационных характеристик танталовых объемно-пористых конденсаторов во времени // Вестник Ижевского государственного технического университета. 2014. № 1. С. 11-15.

Получение пористых танталовых анодов для электролитических конденсаторов при помощи послойного поточечного электроимпульсного спекания / И. А. Елькин, К. С. Столбов, В. А. Волков [и др.] // Химическая физика и мезоскопия. 2020. Т. 22, № 4. С. 421-433. DOI: 10.15350/17270529. 2020.4.40.

Кузнецова В. А., Муравьев В. В. Ускоренные испытания сохраняемости танталовых конденсаторов с использованием теплового метода // Вестник ИжГТУ имени М. Т. Калашникова. 2018. Т. 21, № 1. С. 82-88. DOI: 10.22213/2413-1172-2018-1-82-88.

Барсуков В. К., Сибгатуллин Б. И. Контроль качества танталовых чип-конденсаторов с помощью испытаний импульсным током // Контроль. Диагностика. 2018. № 3. С. 58-63. DOI: 10.14489/ td.2018.03.pp.058-063.

Кузнецова В. А., Муравьев В. В. Прогнозирование сохраняемости танталовых оксидно-полупроводниковых чип-конденсаторов по временной зависимости // Вестник ИжГТУ имени М. Т. Калашникова. 2016. Т. 19. № 4. С. 69-72. DOI: 10.22213/2413-1172-2016-4-69-72.

Кузнецова В. А., Муравьев В. В. Метод ускоренных испытаний сохраняемости танталовых оксидно-полупроводниковых чип-конденсаторов // Контроль. Диагностика. 2016. № 7. С. 57-60. DOI: 10.14489/td.2016.07.pp.057-060.

Кузнецова В. А., Муравьев В. В. Влияние конструктивных характеристик анода на эксплуатационные параметры оксидно-полупроводниковых танталовых чип-конденсаторов // Вестник Ижевского государственного технического университета. 2014. № 4. С. 105-107.

Беляева Е. А., Муравьев В. В. Управление производством танталовых конденсаторов с жидким электролитом посредством контроля операционного выхода годных // Вестник ИжГТУ имени М. Т. Калашникова. 2015. Т. 18. № 2. С. 72-75.

Беляева Е. А., Муравьев В. В. Влияние пористости и режимов оксидирования анода на качество танталовых конденсаторов с жидким электролитом // Контроль. Диагностика. 2016. № 3. С. 62-70. DOI: 10.14489/td.2016.03.pp.062-070.

Беляева Е. А., Муравьев В. В. Управление качеством танталовых конденсаторов на основе анализа дефектов, возникающих на этапах технологического процесса и обнаруживаемых при эксплуатации // Вестник ИжГТУ имени М. Т. Калашникова. 2018. Т. 21, № 1. С. 74-81. DOI: 10.22213/2413-1172-2018-1-74-81.

Беляева Е. А., Муравьев В. В. Комплексный контроль качества приварки выводов танталовых объемно-пористых конденсаторов // Вестник ИжГТУ имени М. Т. Калашникова. 2018. Т. 21, № 2. С. 147-158. DOI: 10.22213/2413-1172-2018-2-147-158.

Кузнецов П. Л., Муравьев В. В. Контроль качества электролитических танталовых конденсаторов с использованием стресс-теста // Приборы и методы измерений. 2015. № 1. С. 76-80.