Применение зондовой микроскопии для контроля размеров и анализа дисперсности наночастиц

P V Gulyaev; M R Gafarov; Yu K Shelkovnikov; A V Tyurikov; S R Kiznertsev

Authors

P. V. Gulyaev Institute of Applied Mechanics UB RAS
M. R. Gafarov Institute of Applied Mechanics UB RAS
Y. K. Shelkovnikov Institute of Applied Mechanics UB RAS
A. V. Tyurikov Institute of Applied Mechanics UB RAS
S. R. Kiznertsev Institute of Applied Mechanics UB RAS

Keywords:

probe microscopy, nanoparticles, dispersion control, segmentation of images

Abstract

The application of scanning probe microscopy to study of the water concentrate of nanodiamonds is described. Descriptions of methods and sample preparation, as well as relevant research results are presented. The problems of automatic segmentation of images in accordance with the profilogram curvature to analyze the dispersion of the nanoparticles are considered.

Author Biographies

P. V. Gulyaev, Institute of Applied Mechanics UB RAS

кандидат технических наук, ст. научный сотрудник; Институт прикладной механики УрО РАН, Ижевск; Institute of Applied Mechanics UB RAS

M. R. Gafarov, Institute of Applied Mechanics UB RAS

аспирант; Институт прикладной механики УрО РАН, Ижевск; Institute of Applied Mechanics UB RAS

Y. K. Shelkovnikov, Institute of Applied Mechanics UB RAS

доктор технических наук, профессор, гл. научный сотрудник; Институт прикладной механики УрО РАН, Ижевск; Institute of Applied Mechanics UB RAS

A. V. Tyurikov, Institute of Applied Mechanics UB RAS

кандидат физико-математических наук, ст. научный сотрудник; Институт прикладной механики УрО РАН, Ижевск; Institute of Applied Mechanics UB RAS

S. R. Kiznertsev, Institute of Applied Mechanics UB RAS

кандидат технических наук, ст. научный сотрудник; Институт прикладной механики УрО РАН, Ижевск; Institute of Applied Mechanics UB RAS

References

Васильев Л. С., Ломаева С. Ф. К анализу механизмов, ограничивающих дисперсность порошков, полученных методом механического измельчения // Физика металлов и металловедение. - 2002. - Т. 93. - № 2. - С. 1-9.

АСМ-исследования нанокристаллических порошков на основе железа / С. Ф. Ломаева [и др.] // Материалы Всерос. совещания «Зондовая микроскопия - 2000». - Нижний Новгород : ИФН РАН, 2000. - С. 75-79.

Каркищенко А. Н., Лепский А. Е., Безуглов А. В. Об одном способе векторного и аналитического представления контура изображения // Материалы Всерос. науч.-техн. конф. «Интел.САПР-97». - Таганрог : ТРТУ, 1998. - Т. 8. - № 2. - C. 107-111.