Применение зондовой микроскопии для контроля размеров и анализа дисперсности наночастиц

Павел Валентинович Гуляев; Марат Ренатович Гафаров; Юрий Константинович Шелковников; Александр Валерьевич Тюриков; Станислав Рафаилович Кизнерцев

Авторы

П. В. Гуляев Институт прикладной механики УрО РАН, Ижевск
М. Р. Гафаров Институт прикладной механики УрО РАН, Ижевск
Ю. К. Шелковников Институт прикладной механики УрО РАН, Ижевск
А. В. Тюриков Институт прикладной механики УрО РАН, Ижевск
С. Р. Кизнерцев Институт прикладной механики УрО РАН, Ижевск

Ключевые слова:

зондовая микроскопия, наночастицы, контроль дисперсности, сегментация изображений

Аннотация

Описано применение сканирующей зондовой микроскопии для исследования водного концентрата наноалмазов. Приводятся описания методов и средств подготовки образцов, а также соответствующие результаты исследований. Рассмотрены вопросы автоматической сегментации по кривизне профилограммы изображения с целью анализа дисперсности наночастиц.

Биографии авторов

П. В. Гуляев, Институт прикладной механики УрО РАН, Ижевск

кандидат технических наук, ст. научный сотрудник; Институт прикладной механики УрО РАН, Ижевск

М. Р. Гафаров, Институт прикладной механики УрО РАН, Ижевск

аспирант; Институт прикладной механики УрО РАН, Ижевск

Ю. К. Шелковников, Институт прикладной механики УрО РАН, Ижевск

доктор технических наук, профессор, гл. научный сотрудник; Институт прикладной механики УрО РАН, Ижевск

А. В. Тюриков, Институт прикладной механики УрО РАН, Ижевск

кандидат физико-математических наук, ст. научный сотрудник; Институт прикладной механики УрО РАН, Ижевск

С. Р. Кизнерцев, Институт прикладной механики УрО РАН, Ижевск

кандидат технических наук, ст. научный сотрудник; Институт прикладной механики УрО РАН, Ижевск

Библиографические ссылки

Васильев Л. С., Ломаева С. Ф. К анализу механизмов, ограничивающих дисперсность порошков, полученных методом механического измельчения // Физика металлов и металловедение. - 2002. - Т. 93. - № 2. - С. 1-9.

АСМ-исследования нанокристаллических порошков на основе железа / С. Ф. Ломаева [и др.] // Материалы Всерос. совещания «Зондовая микроскопия - 2000». - Нижний Новгород : ИФН РАН, 2000. - С. 75-79.

Каркищенко А. Н., Лепский А. Е., Безуглов А. В. Об одном способе векторного и аналитического представления контура изображения // Материалы Всерос. науч.-техн. конф. «Интел.САПР-97». - Таганрог : ТРТУ, 1998. - Т. 8. - № 2. - C. 107-111.